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专利介绍
平台严控核验 保障专利真实有效
基本信息
一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法
申请号 | CN201611120200.6 | 分类号 | |
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申请日期 | 2016-12-08 | 有效期 | |
公开日期 | 2017-04-26 | 公开号 | CN106596354A |
发明人/设计人 | 曹**鑫 | 权利人 | 南**学 |
专利类型 | 未知 | 十象顾问 | 刘欢 联系TA |
摘要介绍
本发明提供一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法,其中,所述装置包括照明模块、探测模块、半透半反棱镜、激光强度模块、升降机构、物镜、待测颗粒、样品池、上位机及运动控制器,其中,所述照明模块产生的激光通过所述半透半反棱镜进入所述物镜,并根据所述照明模块和所述物镜的位置关系,生成对应类型的光束;所述光束作用于位于所述样品池中的所述待测颗粒,生成后向散射光;所述后向散射光依次通过所述物镜和所述半透半反棱镜后进入所述探测模块;所述探测模块根据接收所述后向散射光的微透镜孔径,确定所述后向散射光对应的散射角度。本发明提供的一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法,能够提高光散射特性测量的精度。
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