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专利介绍
平台严控核验 保障专利真实有效
基本信息
基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统
申请号 | CN201410855723.X | 分类号 | |
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申请日期 | 2014-12-31 | 有效期 | |
公开日期 | 2018-06-12 | 公开号 | CN104569976B |
发明人/设计人 | 李** | 权利人 | 武*学 |
专利类型 | 未知 | 十象顾问 | 刘欢 联系TA |
摘要介绍
本发明公开了一种基于稀疏测量的综合孔径辐射计遥感成像的方法和系统,其中方法包括步骤:建立稀疏变换基库,该稀疏变换基库包括多个基函数,根据该稀疏变换基库对原始微波辐射场分布进行稀疏表示;对综合孔径微波辐射计的基线进行测量权重建模并压缩抽取,得到抽取的基线;以及根据原始微波辐射场分布的稀疏表示及抽取的基线,使用基于稀疏重构的图像反演方法来得到场景亮温分布图像。
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